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绝缘耐电压测试参数对测试结果的影响

2022-04-14 16:53:31来源:电动学堂  

文章来源:万向一二三股份公司


电芯内部存在短路是引起锂离子电池安全问题的原因之一。针对电池内部短路风险,绝缘耐电压(Hi-pot)测试是一项重要的质量检测筛选手段,广泛应用于锂离子电池生产制造过程中,具有十分重要的作用。
锂离子电池生产制造过程中,通常采用叠片或卷绕方式将正、负极片和隔膜组装在一起,该过程制成的半成品通常被称为裸电芯。隔膜将正负极片间隔开,但隔膜中的孔隙可以允许Li+自由通过。Hi-pot测试主要是检测电芯内部是否存在颗粒异物、隔膜是否存在破损点或极片边缘是否存在严重毛刺等质量问题,一般采用绝缘电阻测量仪进行测试。
为了确保Hi-pot测试有效地检出裸电芯内部可能潜在的短路问题,本文作者重点探究了Hi-pot测试的测试时间、压力和测试电压等关键因素对结果的影响,以期指导生产时设定更有效的测试参数。

1实验

1.1实验设备及原理实验采用HIOKI5520绝缘电阻测试仪(日本产)。测试开始时,测试仪给裸电芯施加一个电压,该电压持续一段规定的时间后,检测器检测漏电流的电流值并转化为绝缘阻值,根据绝缘阻值是否在设定规定范围内,判断裸电芯正负极之间有无短路。一般测试过程中施加电压的流程见图1。



在一定时间t1内,对裸电芯从0开始加电压,至设定值U;电压U保持一段时间至t2;测试完成,切断测试电压,裸电芯正负极形成的杂散电容短接放电。
1.2实验样品实验样品采用本公司同一批次制作的常规叠片式裸电芯(308.5mm×102.5mm×9.9mm),标称电压3.2V,额定容量31Ah,正极活性物质为磷酸铁锂,负极活性物质为石墨,隔膜为聚乙烯(PE)基膜。
1.3实验方法重复测试:采用两种方式对同一批电芯进行Hi-pot测试,测试条件为延迟时间1.5s,测试时间4.0s,测试压力200N,测试电压250V。方式1:测试后,不进行正负极短接处理,连续测试,两次测试时间间隔3s以内;方式2:测试后将正负极进行短接处理,再进行重复测试。


不同延迟时间:当前所使用的测试设备升压到设置电压U的时间t1为0.5s,延迟时间设置的一般要求需要大于该升压时间,t2为测试时间。为避免测试时间过短对不同延迟时间测试结果的影响,测试时间采用相对充足的10.5s,然后采用1~10s的延迟时间进行测试。测试压力为200N,测试电压为250V。
不同测试时间:为避免延迟时间过短对不同测试时间测试结果的影响,采用1.5s和2.5s两种延迟时间进行测试,测试时间为3~10s。测试压力为200N,测试电压为250V。
不同测试压力:受限于设备所能提供的测试压力最大为600N,选取200N、450N和600N等3个压力参数进行对比测试。延迟时间为1.5s、测试时间为4.0s、测试电压为250V。不同测试电压:绝缘电阻测试设备的测试电压为0~1000V,在100V、250V、500V和1000V等4个电压参数下进行对比测试。延迟时间为1.5s、测试时间为4.0s、测试压力为200N。
测试压力和测试电压对Hi-pot测试不良(NG)品检出率影响的测试方法:实际生产中,Hi-pot测试NG电芯比例很低,为了避免大批量电芯实验,首先人为制造了10只含金属异物的缺陷裸电芯样件,异物为焊接工序负极铜金属焊渣,焊渣形貌不一,尺寸为50~200μm。异物引入方式为用镊子向裸电芯第5层正负极片的中放入3颗负极铜金属焊渣。针对10只人为NG异物电芯,对比了250V电压下,200N和600N不同压力下的NG电芯检出率;对比了450N压力下,250V、500V和1000V不同电压下的NG电芯检出率。最后,选取250V、450N,250V、600N,500V、450N等3种测试条件,在生产线进行了批量验证。
2结果与讨论
2.1重复测试采用两种方式对同一批电芯进行Hi-pot重复测试,两种方式的测试结果见图2。



从图2可知,方式1重复测试,随测试次数的增加,结果逐渐增大,8次连续测试后,结果趋于相对稳定;方式2重复测试,结果相对稳定。这是因为:正极/隔膜/负极构成的杂散电容在测试时进行了充电,测试后,若不进行正负极短接,仍会残留电量;重复测试时,因极化导致的极化电流减小,测得的结果绝缘阻值会变大;正负极短接后,可以放掉首次测试时充入的电量,因此测试结果相对稳定。将电芯放置更长时间让其缓慢放电,也可以使重复测试结果保持相对稳定。
2.2测试时间Hi-pot测试的时间设置,主要包括测试时间和延迟时间。分别验证两个时间的变化对结果的影响。首先,固定测试时间为10.5s,然后,调整延迟时间为1~10s,测试结果见图3。



从图3可知,在固定的10.5s测试时间条件下,延迟时间从1s增加到10s,耐电压绝缘阻值基本保持稳定,延迟时间对测试结果影响较小。为验证测试时间对Hi-pot测试结果的影响,固定延迟时间为1.5s、2.5s,调整测试时间,测试结果见图4。



从图4可知,在固定的延迟时间下,随测试时间的延长,测试结果逐渐增大。这是因为:在Hi-pot测试过程中,设备检测到的电流主要包括电容电流、极化电流和漏电流等,电压达到最大值后,电容电流快速消失;剩余极化电流和漏电流,随着测试时间增加,极化电流逐渐减小,漏电流基本保持不变,绝缘阻抗结果也就随之逐渐增大。相同测试时间下不同延迟时间的绝缘阻抗见表1。



从表1可知,在相同的测试时间下,2.5s和1.5s延迟时间下的绝缘阻抗结果接近。该数据可以同样印证,延迟时间对测试结果的影响较小。
2.3测试压力Hi-pot测试时,对裸电芯施加一定的外部压力,能使正、负极和隔膜的接触更紧密,让内部可能存在的异物挤压隔膜,以便更容易地检测出存在异物。采用相同的测试电压(250V)将裸电芯放置于不同的测试压力下,测试结果见图5。



从图5可知,在测试压力为200~600N时,提升测试压力对测试结果的影响较小。
2.4测试电压裸电芯的耐电压击穿能力与隔膜本身的耐电压强度有关,隔膜越薄,耐电压强度越低。测试电压应根据隔膜的耐电压强度设定,测试电压最高不能高于隔膜本征击穿电压,否则会对正常电芯的隔膜造成损坏。绝缘电阻测试设备的测试电压为0~1000V,当前行业内裸电芯Hi-pot测试常规采用的测试电压为250V。实验在相同的测试压力(450N)下,分别测试100V、250V、500V和1000V下的绝缘阻值,结果见图6。



从图6可知,随着测试电压的升高,绝缘阻值呈现逐渐减小的趋势,电压升高到1000V,也未发生击穿。这说明,当前实验样品使用的隔膜耐击穿电压高于1000V。
2.5测试压力和测试电压对Hi-pot测试检出率的影响测试压力试验表明,测试压力在200~600N时对测试结果的影响较小,但根据理论分析,如果正负极之间存在一定尺寸的异物,增大测试压力,正负极之间的间距减小,隔膜被异物挤压,正负极之间的隔膜被击穿,电压会下降。如果加载相同的电压,漏电流可能增大超过设定的警报值,从而更有效识别出异物。测试电压也是如此。异物挤压隔膜,增大测试电压,可以使低电压下不足以击穿隔膜的异物,在高电压下发生击穿,表现出较大的漏电流,从而更有效地识别出异物。为了研究测试压力和测试电压对Hi-pot测试检出率的影响,人为向裸电芯内部添加少量金属异物,制作NG电芯,通过对比不同测试压力和测试电压下的测试结果(见表2),评估增大测试压力和测试电压对NG裸电芯检出情况的影响。



从表2可知,当测试电压为250V时,在200N和600N的测试压力下,NG电芯检出率无明显区别。当测试压力为450N时,在250V的测试电压下,10只人为异物NG电芯检测出5只;当测试电压升高到500V和1000V时,都检测出6只。这表明,增大测试电压可以提高NG裸电芯检出率。有一定数量的添加少量金属异物的电芯无法通过Hi-pot测试检测出来,原因是:添加金属异物的颗粒大小和形貌不同,若异物颗粒过小或形貌偏片状,测试时异物对隔膜的挤压或损伤较小,无法体现出较大的漏电流。
基于上述人为NG电芯的实验结果,为了进一步验证测试压力和测试电压的影响,分别进行放大批量测试实验,考察测试压力和测试电压对正常批量电芯检出率的影响,对相邻时间点生产的同一批次电芯进行测试对比,结果见表3。



从表3可知,测试压力由450N提高到600N,NG率变化不大;测试电压由250V提高到500V,NG率由0.13%提高到0.31%,明显增大。假设该时间段该批次电芯的异物控制水平相近,测试电压增大,NG电芯检出率明显提高,Hi-pot测试检出的NG裸电芯拆解后,在隔膜上可发现金属异物导致的击穿点。


3结论


综上所述,Hi-pot测试时间对绝缘阻值大小有影响,测试时间越长,检测出来的电流越小,测试结果越大;延迟时间对测试结果影响很小,根据实际生产来确定测试时间,建议延时时间至少为0.5s,测试时间至少为1.0s。实验对比了压力为200~600N时测试电压对结果的影响,结果显示,该压力范围内压力对测试结果的影响很小;测试电压是影响Hi-pot测试的关键因素。当电压为100~1000V时,测试绝缘阻值随测试电压的增大而减小,电压提高,可提高不良电芯的检出率,需要设定合理的电压来保证测试的有效性,但不能无限制的增大电压,否则会导致正常电芯被误判为不良品。建议测试电压以不超过隔膜本征击穿电压的50%为宜。

标签: 测试电压 测试时间 测试结果

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